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CCS/日本希希愛視干涉條紋檢測用照明光源 干涉條紋※用于干涉條紋檢測的 LDF-NB系列照明可顯示是否存在薄膜或涂層涂層和不均勻性。 * 干涉條紋：由于薄膜的每一層反射的光根據薄膜的厚度而相互增強或減弱，因此根據 明暗和RGB的波長產生條紋。

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CCS/日本希希愛視大功率紅外檢測LED光源 IR 系列 1000 nm 或更高類型，使用大功率紅外 LED 6種波長的陣容：1050nm、1200nm、1300nm、1450nm、1550nm和1650nm 是常規產品的3.4倍※實現高輸出 （* 常規 LDL-74X27IR105-24 和 LDL2-74X30IR105 的比較） 也可以提出近紅外相機和近紅外鏡頭。 照明的形狀和尺寸可以根

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CCS/日本希希愛視近紅外SWIR高光譜成像光源 新增高功率輻照型、高均勻型LDL-222X42CIR-LACL 根據應用提供三種類型的高光譜成像照明：高功率照射型、線聚焦型和高均勻擴散型 從可見光到近紅外區域（約 2500 nm）的波長特性，適用于廣泛的應用 使用壽命長的特殊鹵素燈（TH-200X30CIR / LN-200CIR）